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解决方案
射频集成電(diàn)路测试系统
射频集成電(diàn)路测试系统是针对射频集成電(diàn)路的性能(néng)指标测试要求,基于PXIe总線(xiàn)仪器為(wèi)主體(tǐ)构建的一种集射频、数字、源测量等测试资源于一體(tǐ)且集成度高的集成電(diàn)路综合测试平台。该系统具有(yǒu)开放式的系统體(tǐ)系架构,可(kě)适用(yòng)于集成電(diàn)路设计验证、产線(xiàn)测试、入厂复检等不同应用(yòng)场景,能(néng)够满足射频前端类相关的功率放大器、低噪声放大器、微波开关、滤波器、双工器等器件的全指标多(duō)工位并行自动化测试需求。
兼容性强-基于PXIe总線(xiàn)仪器為(wèi)主體(tǐ)构建,总線(xiàn)开放
基于PXIe总線(xiàn)仪器為(wèi)主體(tǐ)构建,具有(yǒu)很(hěn)强的灵活性、兼容性,通过对射频、数字和源测量类测试资源的组合重构,可(kě)满足不同规模和指标水平的射频集成電(diàn)路测试需求;同时得益于PXIe总線(xiàn)的开放性,系统也可(kě)根据用(yòng)户实际需求有(yǒu)机融合全球资源提供最优配置。
测试快速-立即可(kě)用(yòng)的多(duō)工位并行测试管理(lǐ)支持
支持多(duō)線(xiàn)程高速并发测试。通过测试序列模板开发包的支持可(kě)快速完成多(duō)工位并行测试序列编写,期间所涉及的资源争用(yòng)、调度问题均由软件平台完成,开发简洁,执行高效,滤波器测试场景下测试速度可(kě)达到20000UPH。
安全性高-完善的测试状态监控与异常处理(lǐ),保证测试安全
提供测试状态实时监控功能(néng),动态感知、智能(néng)判定各工位健康状态并给出操作建议;完善的异常捕获与处理(lǐ)机制,保证测试安全;支持多(duō)级操作权限管理(lǐ),操作记录可(kě)全程记录并回放。
校准完善-涵盖标量、矢量、金机等多(duō)种校准方式
多(duō)维度的校准支持,基于软件平台已有(yǒu)标量校准框架实现通道级插损获取、修正;基于矢量去嵌技术实现可(kě)达被测集成電(diàn)路输入输出端面的高精度矢量误差修正;基于向导的金机校准技术,获取系统偏移,从而实现批次性的性能(néng)一致性快速评估。
技术规范-支持STDF标准测试数据收集、主流分(fēn)选机控制
符合集成電(diàn)路行业标准,实现STDF标准协议,集成電(diàn)路测试执行完成后自动生成相应格式的测试数据。提供TTL控制插件、GPIB控制插件等,支撑分(fēn)选机主流控制方式。
平台完备-共性功能(néng)支持丰富完备
立即可(kě)用(yòng)的图形化软、硬件失效管理(lǐ),实现测试结果失效编辑部分(fēn)与软、硬件失效设置联动,辅助指引被测集成電(diàn)路依据测试结果进行自动化流转。
软件平台集成量产管理(lǐ)软件,应用(yòng)于量产场景,实现用(yòng)户权限管理(lǐ),测试信息留档备查,测试信息导入,测试一键执行,测试过程监控等功能(néng)。
交付快速-多(duō)维度,多(duō)人并行开发交付
基于软件平台.Net适配接口反射功能(néng),采用(yòng)层次化.Net开发技术,实现面向多(duō)维度的多(duō)人协同开发,大幅度缩短系统调试交付周期。
射频集成電(diàn)路测试系统具有(yǒu)对射频集成電(diàn)路的多(duō)参数自动测试能(néng)力,以射频前端类相关集成電(diàn)路测试為(wèi)例,具體(tǐ)测试内容包括:频谱特性、伏安特性、噪声系数等。测试系统各组成部分(fēn)、信号流转方式如下图所示。
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